Secondary ion mass spectrometry basic concepts instrumental aspercts applications and trends

Pencarian berdasarkan :

SEMUA Pengarang Subjek ISBN/ISSN Pencarian Spesifik

Pencarian terakhir:

Secondary ion mass spectrometry basic concepts instrumental aspercts applications and trends

A. Benneinghoven - Nama Orang; FG. Rudennauer - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

08036/91 Tersedia

Informasi Detail

Judul Seri: -
No. Panggil: -
Penerbit: : John Wiley & Sons., 1987
Deskripsi Fisik: xxxv,1227p.;ill.;ind.;25cm.
Bahasa
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: 543.087 3
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: Secondary Ion Mass Spectrometry
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: -

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar